文献
J-GLOBAL ID:201802240510354330
整理番号:18A0354653
故障解析のためのBayesネットワークに基づくアプローチ【Powered by NICT】
A Bayesian network-based approach for fault analysis
著者 (2件):
Jun Hong-Bae
(Department of Industrial Engineering, Hongik University, Seoul, South Korea)
,
Kim David
(School of Mechanical, Industrial & Manufacturing Engineering, Oregon State University, USA)
資料名:
Expert Systems with Applications
(Expert Systems with Applications)
巻:
81
ページ:
332-348
発行年:
2017年
JST資料番号:
W0178A
ISSN:
0957-4174
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)