文献
J-GLOBAL ID:201802241533373954
整理番号:18A2030055
SIMSとX線反射率を用いたAl/ZrC界面の深さ分析【JST・京大機械翻訳】
Depth analysis of Al/ZrC interfaces using SIMS and x-ray reflectivity
著者 (5件):
Modi Mohammed H.
(Soft X-ray Applications Lab, Raja Ramanna Centre for Advanced Technology, Indore, 452013, India)
,
Sinha Mangalika
(Soft X-ray Applications Lab, Raja Ramanna Centre for Advanced Technology, Indore, 452013, India)
,
Bose Aniruddha
(Superconducting Proton Linac Section, Raja Ramanna Centre for Advanced Technology, Indore, 452013, India)
,
Singh Amol
(National Synchrotron Radiation Research Center, Hsinchu, 30076, Taiwan)
,
Jonnard Philippe
(Faculte des Sciences et Ingenierie, UMR CNRS, Laboratoire de Chimie Physique-Matiere et Rayonnement, Sorbonne Universite, 4 place Jussieu, F-75252, Paris cedex 05, France)
資料名:
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻:
50
号:
11
ページ:
1239-1242
発行年:
2018年
JST資料番号:
E0709A
ISSN:
0142-2421
CODEN:
SIANDQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)