文献
J-GLOBAL ID:201802242440385536
整理番号:18A0846903
VANETにおけるブラックホールの検出と分離【JST・京大機械翻訳】
Detection and isolation of Black Hole in VANET
著者 (2件):
Gautham P Sai
(Department of Electrical and Electronics Engineering, Amrita School of Engineering, Coimbatore, Amrita Vishwa Vidyapeetham, Amrita University, India)
,
Shanmughasundaram R
(Department of Electrical and Electronics Engineering, Amrita School of Engineering, Coimbatore, Amrita Vishwa Vidyapeetham, Amrita University, India)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICICICT
ページ:
1534-1539
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)