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文献
J-GLOBAL ID：201802242644849604
整理番号：18A2041469
走査型電界放出顕微鏡によるスピン分解イメージング【JST・京大機械翻訳】
Spin resolved Imaging with Scanning Field-Emission Microscopy
Ramsperger U.
(Laboratory for Solid State Physics, ETH Zurich, Zurich, 8093, Switzerland)
,
De Pietro L.G.
(Laboratory for Solid State Physics, ETH Zurich, Zurich, 8093, Switzerland)
,
Bertolini G.
(Laboratory for Solid State Physics, ETH Zurich, Zurich, 8093, Switzerland)
,
Cabrera H.
(Laboratory for Solid State Physics, ETH Zurich, Zurich, 8093, Switzerland)
,
Zhou J.
(Laboratory for Solid State Physics, ETH Zurich, Zurich, 8093, Switzerland)
,
Gurlu O.
(Laboratory for Solid State Physics, ETH Zurich, Zurich, 8093, Switzerland)
,
Vindigni A.
(Laboratory for Solid State Physics, ETH Zurich, Zurich, 8093, Switzerland)
,
Pescia D.
(Laboratory for Solid State Physics, ETH Zurich, Zurich, 8093, Switzerland)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018 号： IVNC ページ： 1-2 発行年： 2018年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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