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文献
J-GLOBAL ID：201802243732807768
整理番号：18A1028631
硬X線光電子分光法により測定した自然酸化物/BaSi_2および非晶質Si/BaSi_2界面におけるバンド整列【JST・京大機械翻訳】
Band alignments at native oxide/BaSi2 and amorphous-Si/BaSi2 interfaces measured by hard X-ray photoelectron spectroscopy
Takabe Ryota
(Institute of Applied Physics, University of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, Japan)
,
Takeuchi Hiroki
(Institute of Applied Physics, University of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, Japan)
,
Du Weijie
(Institute of Applied Physics, University of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, Japan)
,
Ito Keita
(Institute of Applied Physics, University of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, Japan)
,
Toko Kaoru
(Institute of Applied Physics, University of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, Japan)
,
Ueda Shigenori
(Quantum Beam Unit, National Institute for Materials Science, Tsukuba, Ibaraki 305-0047, Japan)
,
Kimura Akio
(Graduate School of Science, Hiroshima University, Higashi-hiroshima 739-8526, Japan)
,
Suemasu Takashi
(Institute of Applied Physics, University of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, Japan)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： PVSC ページ： 1-4 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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