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文献
J-GLOBAL ID：201802243910370026
整理番号：18A1860102
重いワイヤボンドの周期的ロバスト性:Al,AlMg,CuおよびCuCoAl【JST・京大機械翻訳】
Cyclic robustness of heavy wire bonds: Al, AlMg, Cu and CucorAl
Czerny B.
(Christian Doppler Laboratory for Lifetime and Reliability of Interfaces in Complex Multi-Material Electronics, Chemical Technologies and Analytics, TU Wien, Getreidemarkt 9/CT-164, 1060 Vienna, Austria)
,
Khatibi G.
(Christian Doppler Laboratory for Lifetime and Reliability of Interfaces in Complex Multi-Material Electronics, Chemical Technologies and Analytics, TU Wien, Getreidemarkt 9/CT-164, 1060 Vienna, Austria)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 88-90 ページ： 745-751 発行年： 2018年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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