文献
J-GLOBAL ID:201802244086339470
整理番号:18A1043425
酸化アルミニウム薄膜容量性水分センサの長期ドリフトの研究【JST・京大機械翻訳】
Study of Long Term Drift of Aluminum Oxide Thin Film Capacitive Moisture Sensor
著者 (3件):
Kumar Shailesh
(Electrical and Instrumentation Engineering Department, Thapar University, Patiala, India)
,
Islam Tarikul
(Department of Electrical Engineering, Jamia Millia Islamia (A Central University), New Delhi, India)
,
Raina Kuldeep Kumar
(School of Physics and Material Science, Thapar University, Patiala, India)
資料名:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
(IEEE Transactions on Device and Materials Reliability)
巻:
18
号:
2
ページ:
180-188
発行年:
2018年
JST資料番号:
W1320A
ISSN:
1530-4388
CODEN:
ITDMA2
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)