文献
J-GLOBAL ID:201802244371344709
整理番号:18A1679524
パターン解析を用いた7シリーズFPGA読出しシーケンス依存性BRAM故障の電気診断【JST・京大機械翻訳】
Electrical Diagnosis of 7 Series FPGAs Read Sequence Dependent Bram Failure Using Pattern Analysis
著者 (3件):
Li Xin
(Xilinx Asia Pacific Pte Ltd, 5 Changi Business Park Vista, Singapore, 486040)
,
Yang Jing
(Xilinx Asia Pacific Pte Ltd, 5 Changi Business Park Vista, Singapore, 486040)
,
Salinas Peter Floyd
(Xilinx Asia Pacific Pte Ltd, 5 Changi Business Park Vista, Singapore, 486040)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
IPFA
ページ:
1-4
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)