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文献
J-GLOBAL ID：201802244544447217
整理番号：18A1854577
表面電位減衰測定による樹脂膜の劣化検出法の開発
磯恭平
(山形大 大学院理工学研究科)
,
杉本俊之
(山形大 大学院理工学研究科)
,
野村信雄
(春日電機)
資料名：
静電気学会講演論文集
(Proceedings of Annual Meeting of the Institute of Electrostatics Japan)
巻： 2018 ページ： 161-162 発行年： 2018年
JST資料番号： F0983B ISSN： 1342-1492 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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