文献
J-GLOBAL ID:201802245308433481
整理番号:18A1941714
準安定Ge_0.81Sn_0.19ナノワイヤの電気特性評価と温度誘起劣化の検討【JST・京大機械翻訳】
Electrical characterization and examination of temperature-induced degradation of metastable Ge0.81Sn0.19 nanowires
著者 (6件):
Sistani M.
(TU Wien, Institute of Solid State Electronics, Floragasse 7, 1040 Vienna, Austria)
,
Seifner M. S.
,
Bartmann M. G.
,
Smoliner J.
,
Lugstein A.
,
Barth S.
資料名:
Nanoscale
(Nanoscale)
巻:
10
号:
41
ページ:
19443-19449
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2323A
ISSN:
2040-3364
CODEN:
NANOHL
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)