文献
J-GLOBAL ID:201802245324266748
整理番号:18A1900213
電子パッケージングにおけるCoSn_3完全金属間継手の微細構造と成長挙動の研究【JST・京大機械翻訳】
Investigation of microstructure and growth behavior of CoSn3 full intermetallic joints in electronic packaging
著者 (4件):
Tian Shuang
(Jiangsu Key Laboratory for Advanced Metallic Materials, Southeast University, Nanjing, China)
,
Zhang Xuemei
(Jiangsu Key Laboratory for Advanced Metallic Materials, Southeast University, Nanjing, China)
,
Zhou Jian
(Jiangsu Key Laboratory for Advanced Metallic Materials, Southeast University, Nanjing, China)
,
Xue Feng
(Jiangsu Key Laboratory for Advanced Metallic Materials, Southeast University, Nanjing, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
ICEPT
ページ:
1051-1054
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)