文献
J-GLOBAL ID:201802245675376751
整理番号:18A0520937
高電圧電力品質改善による高出力,精密電子ビームおよびイオンビーム性能と信頼性の改善【Powered by NICT】
Improving high-power, precision electron-beam and ion-beam performance and reliability by improving high-voltage power quality
著者 (3件):
Byfield G.
(Advanced Energy, Hawthorn Rd, Wick, Littlehampton, BN17 7LT, UK)
,
Chirodian M.
(Advanced Energy, Hawthorn Rd, Wick, Littlehampton, BN17 7LT, UK)
,
Morrison J.
(Advanced Energy, Hawthorn Rd, Wick, Littlehampton, BN17 7LT, UK)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
PPC
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)