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文献
J-GLOBAL ID：201802246226751390
整理番号：18A1860174
分位回帰と擬似故障寿命に基づく加速劣化データのための新しい処理法【JST・京大機械翻訳】
A new processing method for accelerated degradation data based on quantile regression and pseudo-failure lifetime
Yang Jun
(School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China)
,
Shi Xiao
(School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China)
,
Zhang Jianchun
(School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 88-90 ページ： 1141-1145 発行年： 2018年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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