文献
J-GLOBAL ID:201802246441217999
整理番号:18A1678315
単層基板集積画像ガイドと同軸プローブの間の遷移【JST・京大機械翻訳】
A Transition Beween Single-Layer Substrate Integrated Image Guide and Coaxial Probe
著者 (2件):
Mu Meng Tian
(EHF Key Laboratory of Fundamental Science, School of Electronic Science and Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
,
Cheng Yu Jian
(EHF Key Laboratory of Fundamental Science, School of Electronic Science and Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
CSQRWC
ページ:
1-3
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)