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文献
J-GLOBAL ID：201802246782210654
整理番号：18A1105264
二相遅延熱モデルに基づく最新のGaafet構造における温度分布に及ぼす温度と熱流束時間遅れの影響【JST・京大機械翻訳】
Influence of temperature and heat flux time lags on the temperature distribution in modern GAAFET structure based on Dual-Phase-Lag thermal model
Raszkowski Tomasz
(Department of Microelectronics and Computer Science, Lodz University of Technology, Lodz, Poland)
,
Samson Agnieszka
(Department of Microelectronics and Computer Science, Lodz University of Technology, Lodz, Poland)
,
Zubert Mariusz
(Department of Microelectronics and Computer Science, Lodz University of Technology, Lodz, Poland)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 86 ページ： 10-19 発行年： 2018年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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