文献
J-GLOBAL ID:201802246892774025
整理番号:18A0999612
曲面結合を除去するための三次元直交走査を用いた原子間力顕微鏡走査ヘッド【JST・京大機械翻訳】
Atomic force microscope scanning head with 3-dimensional orthogonal scanning to eliminate the curved coupling
著者 (6件):
Shi Yushu
(State Key Laboratory of Precision Measuring Technology and Instruments, Tianjin University, Tianjin 300072, China)
,
Shi Yushu
(National Institute of Metrology, Beijing 100029, China)
,
Li Wei
(National Institute of Metrology, Beijing 100029, China)
,
Gao Sitian
(National Institute of Metrology, Beijing 100029, China)
,
Lu Mingzhen
(National Institute of Metrology, Beijing 100029, China)
,
Hu Xiaodong
(State Key Laboratory of Precision Measuring Technology and Instruments, Tianjin University, Tianjin 300072, China)
資料名:
Ultramicroscopy
(Ultramicroscopy)
巻:
190
ページ:
77-80
発行年:
2018年
JST資料番号:
W0972A
ISSN:
0304-3991
CODEN:
ULTRD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)