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文献
J-GLOBAL ID：201802247203539108
整理番号：18A0385176
異なる温度でのIV曲線からのSiPMの絶縁破壊電圧とトリガ確率【Powered by NICT】
Breakdown voltage and triggering probability of SiPM from IV curves at different temperatures
Dinu N.
(Laboratory of Linear Accelerator & University Paris 11, CNRS/IN2P3, 91898 Orsay Cedex, France)
,
Dinu N.
(ARTEMIS laboratory, CNRS/INSIS, UCA, OCA, F-06304, Nice Cedex, France)
,
Nagai A.
(Laboratory of Linear Accelerator & University Paris 11, CNRS/IN2P3, 91898 Orsay Cedex, France)
,
Para A.
(Fermi National Accelerator Laboratory, Batavia Il, 60510-5011 USA)
資料名：
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment)
巻： 845 ページ： 64-68 発行年： 2017年
JST資料番号： D0208B ISSN： 0168-9002 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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