文献
J-GLOBAL ID:201802247659851668
整理番号:18A1045765
電力サイクル試験環境における異なる熱応力適用条件下でのパワーIGBTの故障モード検証【JST・京大機械翻訳】
Failure mode verification of power IGBT under different thermal stress application conditions in power cycling test environment
著者 (5件):
Yuan Qun
(Mentor Graphics Japan Co., ltd, Tokyo, Japan)
,
Endoh Ryo
(Toray Research Center, Inc., Shiga, Japan)
,
Ima Tetsuya
(YAMAHA MOTOR CO., LTD, Hamamatsu, Shizuoka, Japan)
,
Kajita Yasushi
(Nagoya Municipal Industrial Research Institute, Nagoya, Aichi, Japan)
,
Luo Yafei
(Mentor Graphics Japan Co., ltd, Tokyo, Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
ICEP-IAAC
ページ:
367-370
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)