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文献
J-GLOBAL ID：201802247682094835
整理番号：18A1362358
インピーダンス分光法と容量-電圧測定解析:バルクヘテロ接合P3HT:PCBM太陽電池における電荷キャリア寿命とマッピング垂直偏析の影響【JST・京大機械翻訳】
Impedance spectroscopy and capacitance - voltage measurements analysis: Impact of charge carrier lifetimes and mapping vertical segregation in bulk heterojunction P3HT: PCBM solar cells
Oklobia O.
(Centre for Solar Energy Research, College of Engineering, Swansea University, OpTIC Centre St. Asaph Business Park, LL17 0JD, UK)
,
Komilian S.
(Thin Film Laboratory, School of Engineering & Creative Arts, Staffordshire University, Sciences Centre, Leek Road, Stoke-on-Trent, ST4 2DF, UK)
,
Sadat-Shafai T.
(Thin Film Laboratory, School of Engineering & Creative Arts, Staffordshire University, Sciences Centre, Leek Road, Stoke-on-Trent, ST4 2DF, UK)
資料名：
Organic Electronics
(Organic Electronics)
巻： 61 ページ： 276-281 発行年： 2018年
JST資料番号： W1352A ISSN： 1566-1199 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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