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文献
J-GLOBAL ID：201802248060232263
整理番号：18A0720726
マイクロ電気機械系フラックスゲートセンサの雑音解析と改善【JST・京大機械翻訳】
Noise analysis and improvement of a micro-electro-mechanical-systems fluxgate sensor
Lei Chong
(Key Laboratory for Thin Film and Microfabrication of Ministry of Education, Department of Micro/Nano Electronics, School of Electronic Information and Electrical Engineering, Shanghai Jiao Tong University, Dongchuan Road 800, Shanghai 200240, China)
,
Sun Xue-Cheng
(Key Laboratory for Thin Film and Microfabrication of Ministry of Education, Department of Micro/Nano Electronics, School of Electronic Information and Electrical Engineering, Shanghai Jiao Tong University, Dongchuan Road 800, Shanghai 200240, China)
,
Zhou Yong
(Key Laboratory for Thin Film and Microfabrication of Ministry of Education, Department of Micro/Nano Electronics, School of Electronic Information and Electrical Engineering, Shanghai Jiao Tong University, Dongchuan Road 800, Shanghai 200240, China)
資料名：
Measurement
(Measurement)
巻： 122 ページ： 1-5 発行年： 2018年
JST資料番号： W0315B ISSN： 0263-2241 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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