文献
J-GLOBAL ID:201802251112144586
整理番号:18A0607623
Taucプロット斜面定量化の評価:モデル系としてのZnO薄膜【Powered by NICT】
Assessing Tauc Plot Slope Quantification: ZnO Thin Films as a Model System
著者 (2件):
Coulter Jennifer B.
(Department of Materials Science and Engineering, Rutgers University, Piscataway, NJ, 08854-8065, USA)
,
Birnie Dunbar P. III
(Department of Materials Science and Engineering, Rutgers University, Piscataway, NJ, 08854-8065, USA)
資料名:
Physica Status Solidi. B. Basic Solid State Physics
(Physica Status Solidi. B. Basic Solid State Physics)
巻:
255
号:
3
ページ:
ROMBUNNO.201700393
発行年:
2018年
JST資料番号:
C0599A
ISSN:
0370-1972
CODEN:
PSSBBD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)