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文献
J-GLOBAL ID：201802252189458272
整理番号：18A1183439
楕円偏光による拡張Zスキャン法を用いたInPにおける3次非線形磁化率テンソルの測定
Measurement of third-order nonlinear susceptibility tensor in InP using extended Z-scan technique with elliptical polarization
OISHI Masaki
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
SHINOZAKI Tomohisa
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
HARA Hikaru
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
YAMAMOTO Kazunuki
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
MATSUSUE Toshio
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
BANDO Hiroyuki
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 57 号： 5 ページ： 050306.1-050306.4 発行年： 2018年05月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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