文献
J-GLOBAL ID:201802252416328507
整理番号:18A0973713
アンクランプ誘導スイッチングに対するウエハレベル試験法の影響【JST・京大機械翻訳】
Influences of the wafer-level testing method on unclamped inductive switching
著者 (1件):
Ring Matthew
(Advanced Reliability, ON Semicondutor, South Portland, ME USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IIRW
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)