文献
J-GLOBAL ID:201802252811248346
整理番号:18A0116273
拡張信頼性とサブセットシミュレーションを用いた効率的なエージング対応故障確率推定
Efficient Aging-Aware Failure Probability Estimation Using Augmented Reliability and Subset Simulation
著者 (2件):
AWANO Hiromitsu
(VLSI Design and Education Center, The University of Tokyo)
,
SATO Takashi
(Graduate School of Informatics, Kyoto University)
資料名:
IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (Web)
(IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (Web))
巻:
E100.A
号:
12
ページ:
2807-2815(J-STAGE)
発行年:
2017年
JST資料番号:
U0466A
ISSN:
1745-1337
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)