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文献
J-GLOBAL ID：201802253110073208
整理番号：18A0537125
シータナノピペットを用いた走査型イオンコンダクタンス顕微鏡を用いた荷電表面のトポグラフィーイメージングと電荷マッピング【Powered by NICT】
Topographical imaging and charge mapping of charged surface using scanning ion conductance microscopy with a theta nanopipette
Shirasawa Tatsuru
(Graduate School of Mechanical Engineering, Shizuoka University, Johoku, Naka-ku, Hamamatsu, 432-8561, Japan)
,
Mizutani Yusuke
(Graduate School of Medical and Dental Sciences, Niigata University, 757-5 Asahimachi-dori-1, Chuo-ku, Niigata 951-8510, Japan)
,
Ushiki Tatsuo
(Graduate School of Medical and Dental Sciences, Niigata University, 757-5 Asahimachi-dori-1, Chuo-ku, Niigata 951-8510, Japan)
,
Iwata Futoshi
(Graduate School of Mechanical Engineering, Shizuoka University, Johoku, Naka-ku, Hamamatsu, 432-8561, Japan)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： MHS ページ： 1-5 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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