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文献
J-GLOBAL ID：201802253170011260
整理番号：18A1808631
実験装置における参照絶縁欠陥の発生による部分放電測定装置の特性化【JST・京大機械翻訳】
Characterization of Partial Discharge Measuring Instruments by the Generation of Reference Insulation Defects in an Experimental Setup
Garnacho Vecino Fernando
(High Voltage Technological Center, LCOE-FFII, Madrid, Spain)
,
Linares Angel Ramirez
(High Voltage Technological Center, LCOE-FFII, Madrid, Spain)
,
Alvarez Gomez Fernando
(Department of Electrical Engineering, Universidad Polite ́cnica de Madrid, Madrid, Spain)
,
del Alamo Eduardo Arcones
(Department of Electrical Engineering, Universidad Polite ́cnica de Madrid, Madrid, Spain)
,
Romero Carlos Alberto Vera
(Department of Electrical Engineering, Universidad Polite ́cnica de Madrid, Madrid, Spain)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018 号： ICD ページ： 1-4 発行年： 2018年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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