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文献
J-GLOBAL ID：201802253233114682
整理番号：18A1810905
AMS-RF試験品質 欠陥の重症度の評価【JST・京大機械翻訳】
AMS-RF test quality: Assessing defect severity.
Guiterrez Valentin
(CSIC-Universidad de Sevilla, Instituto de Microelectronica de Sevilla, Av. Americo Vespucio s/n, Sevilla, 41092, Spain)
,
Gines Antonio
(CSIC-Universidad de Sevilla, Instituto de Microelectronica de Sevilla, Av. Americo Vespucio s/n, Sevilla, 41092, Spain)
,
Leger Gildas
(CSIC-Universidad de Sevilla, Instituto de Microelectronica de Sevilla, Av. Americo Vespucio s/n, Sevilla, 41092, Spain)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018 号： IOLTS ページ： 23-28 発行年： 2018年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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