文献
J-GLOBAL ID:201802255293744931
整理番号:18A0755238
高信頼性と短チャネルIGZO TFTを用いた内部ゲートICを用いた55”4K UHD OLEDTVの開発【JST・京大機械翻訳】
Development of 55” 4K UHD OLED TV employing the internal gate IC with high reliability and short channel IGZO TFTs
著者 (5件):
Noh Ji Yong
(OLED TV Panel Center, LG display Co., Paju, South Korea)
,
Han Dong Min
(OLED TV Panel Center, LG display Co., Paju, South Korea)
,
Jeong Woo Cheol
(OLED TV Panel Center, LG display Co., Paju, South Korea)
,
Kim Jong Woo
(OLED TV Panel Center, LG display Co., Paju, South Korea)
,
Cha Soo Youle
(OLED TV Panel Center, LG display Co., Paju, South Korea)
資料名:
Journal of the Society for Information Display
(Journal of the Society for Information Display)
巻:
26
号:
1
ページ:
36-41
発行年:
2018年
JST資料番号:
B0996B
ISSN:
1071-0922
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)