文献
J-GLOBAL ID:201802256467746671
整理番号:18A1624506
機械学習を用いた欠陥基準マーク検出【JST・京大機械翻訳】
Defective Fiducial Mark Detection Using Machine Learning
著者 (3件):
An Do Gyu
(Dept. of Electrical and Computer Engineering, Sungkyunkwan University, Suwon, 400-746, Korea)
,
Jung Jung Won
(Dept. of Electrical and Computer Engineering, Sungkyunkwan University, Suwon, 400-746, Korea)
,
Jeon Jae Wook
(Dept. of Electrical and Computer Engineering, Sungkyunkwan University, Suwon, 400-746, Korea)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
SNPD
ページ:
200-205
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)