文献
J-GLOBAL ID:201802256629336351
整理番号:18A1678125
走査電子顕微鏡画像からの集積回路レイアウトのセグメンテーション【JST・京大機械翻訳】
Segmentation of Integrated Circuit Layouts from Scan Electron Microscopy Images
著者 (4件):
Machado Trindade Bruno
(Systems and Computer Engineering, Carleton University, Ottawa, ON, Canada)
,
Ukwatta Eranga
(Systems and Computer Engineering, Carleton University, Ottawa, ON, Canada)
,
Spence Mike
(Research & Development TechInsights, Ottawa, ON, Canada)
,
Pawlowicz Chris
(Research & Development TechInsights, Ottawa, ON, Canada)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
CCECE
ページ:
1-4
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)