文献
J-GLOBAL ID:201802257165866488
整理番号:18A1598250
ナノ構造薄膜の抗真菌特性を予測する電気化学的測定【JST・京大機械翻訳】
Electrochemical measurements to predict the antifungal properties of nanostructured thin films
著者 (4件):
Gullino Alessio
(Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni, Politecnico di Torino, Torino, ITALY)
,
Parvis Marco
(Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni, Politecnico di Torino, Torino, ITALY)
,
Angelini Emma
(Dipartimento di Scienza Applicata e Tecnologia, Politecnico di Torino, Torino, ITALY)
,
Grassini Sabrina
(Dipartimento di Scienza Applicata e Tecnologia, Politecnico di Torino, Torino, ITALY)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
MeMeA
ページ:
1-5
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)