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文献
J-GLOBAL ID：201802258028902688
整理番号：18A1679579
人工神経回路網を用いた電気的および物理的故障解析成功の予測【JST・京大機械翻訳】
Prediction of Electrical and Physical Failure Analysis Success Using Artificial Neural Networks
Zhao Lin
(GLOBALFOUNDRIES, Technology Development, Product Test and Failure Analysis, Singapore)
,
Goh SH
(GLOBALFOUNDRIES, Technology Development, Product Test and Failure Analysis, Singapore)
,
Chan YH
(GLOBALFOUNDRIES, Technology Development, Product Test and Failure Analysis, Singapore)
,
Yeoh BL
(GLOBALFOUNDRIES, Technology Development, Product Test and Failure Analysis, Singapore)
,
Hu Hao
(GLOBALFOUNDRIES, Technology Development, Product Test and Failure Analysis, Singapore)
,
Thor MH
(GLOBALFOUNDRIES, Technology Development, Product Test and Failure Analysis, Singapore)
,
Tan Alan
(GLOBALFOUNDRIES, Technology Development, Product Test and Failure Analysis, Singapore)
,
Lam Jeffrey
(GLOBALFOUNDRIES, Technology Development, Product Test and Failure Analysis, Singapore)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018 号： IPFA ページ： 1-5 発行年： 2018年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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