文献
J-GLOBAL ID:201802258041296201
整理番号:18A1028282
屋外曝露中の市販シリコン薄膜モジュール中に形成された可視欠陥の詳細な解析【JST・京大機械翻訳】
A detailed analysis of visible defects formed in commercial silicon thin-film modules during outdoor exposure
著者 (6件):
Gerber Andreas
(IEK5-photovoltaics, Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, 52425, Germany)
,
Johnston Steve
(National Renewable Energy Laboratory, Golden, CO, 80401, USA)
,
Olivera-Pimentel Guillermo
(IEK5-photovoltaics, Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, 52425, Germany)
,
Siegloch Max
(IEK5-photovoltaics, Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, 52425, Germany)
,
Pieters Bart
(IEK5-photovoltaics, Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, 52425, Germany)
,
Rau Uwe
(IEK5-photovoltaics, Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, 52425, Germany)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
PVSC
ページ:
1-3
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)