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文献
J-GLOBAL ID：201802258245945669
整理番号：18A1492572
プロセス変動から信頼性へ:ナノメータ時代におけるディジタル回路のタイミングの調査
From Process Variations to Reliability: A Survey of Timing of Digital Circuits in the Nanometer Era
Li Bing
(Technical University of Munich)
,
Hashimoto Masanori
(Osaka University)
,
Schlichtmann Ulf
(Technical University of Munich)
資料名：
IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology (Web)
(IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology (Web))
巻： 11 ページ： 2-15(J-STAGE) 発行年： 2018年
JST資料番号： U0110A ISSN： 1882-6687 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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