文献
J-GLOBAL ID:201802259726023556
整理番号:18A1679260
モデルベース診断:周波数領域の視点【JST・京大機械翻訳】
Model-based diagnosis: A frequency domain view
著者 (3件):
Matei Ion
(System Sciences Laboratory, Palo Alto Research Center, Palo Alto, California, 94304, USA)
,
Feldman Alexander
(System Sciences Laboratory, Palo Alto Research Center, Palo Alto, California, 94304, USA)
,
de Kleer Johan
(System Sciences Laboratory, Palo Alto Research Center, Palo Alto, California, 94304, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
ICPHM
ページ:
1-8
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)