文献
J-GLOBAL ID:201802261143681472
整理番号:18A0465614
中程度の乾燥ストレスに応答したコムギ止葉の上クチクラワックスの形態と組成は,SEM,FTIR-ATR及びシンクロトロンX線分光法により明らかにされる【Powered by NICT】
Wheat flag leaf epicuticular wax morphology and composition in response to moderate drought stress are revealed by SEM, FTIR-ATR and synchrotron X-ray spectroscopy
著者 (6件):
Willick Ian R.
(Department of Plant Sciences, University of Saskatchewan, Saskatoon, SK, S7N 5A8, Canada)
,
Lahlali Rachid
(Canadian Light Source, Saskatoon, SK, S7N 2V3, Canada)
,
Vijayan Perumal
(Department of Plant Sciences, University of Saskatchewan, Saskatoon, SK, S7N 5A8, Canada)
,
Muir David
(Canadian Light Source, Saskatoon, SK, S7N 2V3, Canada)
,
Karunakaran Chithra
(Canadian Light Source, Saskatoon, SK, S7N 2V3, Canada)
,
Tanino Karen K.
(Department of Plant Sciences, University of Saskatchewan, Saskatoon, SK, S7N 5A8, Canada)
資料名:
Physiologia Plantarum
(Physiologia Plantarum)
巻:
162
号:
3
ページ:
316-332
発行年:
2018年
JST資料番号:
C0602A
ISSN:
0031-9317
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)