文献
J-GLOBAL ID:201802261397748206
整理番号:18A1597217
低貯蔵とテストアプリケーション時間オーバーヘッドを用いた自律マルチサイクル試験【JST・京大機械翻訳】
Autonomous Multicycle Tests With Low Storage and Test Application Time Overheads
著者 (1件):
Pomeranz Irith
(School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻:
37
号:
9
ページ:
1881-1892
発行年:
2018年
JST資料番号:
B0142C
ISSN:
0278-0070
CODEN:
ITCSDI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)