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J-GLOBAL ID：201802262067372628 整理番号：18A0129762

高熱伝導薄膜基板系とそれらの界面熱抵抗のキャラクタリゼーション【Powered by NICT】

Characterisation of high thermal conductivity thin-film substrate systems and their interface thermal resistance

著者 (8件)：

Moridi Alireza

(Laboratory for Precision and Nano Processing Technologies, School of Mechanical and Manufacturing, UNSW Australia, Kensington, NSW 2052, Australia)

Zhang Liangchi

(Laboratory for Precision and Nano Processing Technologies, School of Mechanical and Manufacturing, UNSW Australia, Kensington, NSW 2052, Australia)

Liu Weidong

(Laboratory for Precision and Nano Processing Technologies, School of Mechanical and Manufacturing, UNSW Australia, Kensington, NSW 2052, Australia)

Duvall Steven

(Silanna Semiconductor, 8 Herb Elliott Ave, Sydney Olympic Park, NSW 2127, Australia)

Brawley Andrew

(Silanna Semiconductor, 8 Herb Elliott Ave, Sydney Olympic Park, NSW 2127, Australia)

Jiang Zhuangde

(State Key Laboratory for Manufacturing Systems Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China)

Yang Shuming

(State Key Laboratory for Manufacturing Systems Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China)

Li Changsheng

(State Key Laboratory for Manufacturing Systems Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China)

資料名：

Surface & Coatings Technology (Surface & Coatings Technology)

巻： 334 ページ： 233-242 発行年： 2018年
JST資料番号： D0205C ISSN： 0257-8972 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

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