文献
J-GLOBAL ID:201802262108090827
整理番号:18A1244108
小企業で開発された半導体光学終点検出ソフトウェアシステムの連続放出に関する信頼性【JST・京大機械翻訳】
Reliability over consecutive releases of a semiconductor Optical Endpoint Detection software system developed in a small company
著者 (3件):
Abuta Eric
(Verification and Validation Group, Verity Instruments, Inc., Carrollton, Texas, USA)
,
Tian Jeff
(Computer Science and Engineering Department, Southern Methodist University, Dallas, Texas, USA)
,
Tian Jeff
(School of Computer Science, Northwestern, Polytechnical University, Xi’an, Shaanxi, China)
資料名:
Journal of Systems and Software
(Journal of Systems and Software)
巻:
137
ページ:
355-365
発行年:
2018年
JST資料番号:
C0845B
ISSN:
0164-1212
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)