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文献
J-GLOBAL ID：201802263371335734
整理番号：18A1724056
SDVSRM-能動的に操作されたデバイスの測定のための動的調整,スキャナ同期サンプル電圧を特徴とする新しいSSRMベース技術【JST・京大機械翻訳】
SDVSRM - a new SSRM based technique featuring dynamically adjusted, scanner synchronized sample voltages for measurement of actively operated devices
Doering Stefan
(Namlab gGmbH, Nothnitzer Str. 64, Dresden 01187, Germany)
,
Doering Stefan
(Infineon Technologies Dresden GmbH, Koenigsbruecker Str. 180, Dresden 01099, Germany)
,
Wachowiak Andre
(Namlab gGmbH, Nothnitzer Str. 64, Dresden 01187, Germany)
,
Roetz Hagen
(Infineon Technologies Dresden GmbH, Koenigsbruecker Str. 180, Dresden 01099, Germany)
,
Eckl Stefan
(Infineon Technologies Dresden GmbH, Koenigsbruecker Str. 180, Dresden 01099, Germany)
,
Mikolajick Thomas
(Namlab gGmbH, Nothnitzer Str. 64, Dresden 01187, Germany)
,
Mikolajick Thomas
(TU Dresden, Chair of Nanoelectronic Materials University of Technology Dresden, Faculty of Electrical and Computer Engineering, Helmholzstrasse 18, Dresden 01062, Germany)
資料名：
Ultramicroscopy
(Ultramicroscopy)
巻： 193 ページ： 24-32 発行年： 2018年
JST資料番号： W0972A ISSN： 0304-3991 CODEN： ULTRD 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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