文献
J-GLOBAL ID:201802264438097721
整理番号:18A1806787
欠陥診断のための機能テストシーケンスの選択【JST・京大機械翻訳】
Selecting Functional Test Sequences for Defect Diagnosis
著者 (1件):
Pomeranz Irith
(School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
(IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems)
巻:
26
号:
10
ページ:
2160-2164
発行年:
2018年
JST資料番号:
W0516A
ISSN:
1063-8210
CODEN:
ITCOB4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)