文献
J-GLOBAL ID:201802264473065118
整理番号:18A1700560
GaAsBiエピ層におけるカー回転顕微鏡法によるスピンダイナミクス
Spin dynamics observed by Kerr rotation microscopy in GaAsBi epilayer
著者 (11件):
KUNIHASHI Yoji
(NTT Basic Res. Lab.)
,
VILKELIS Kostas
(NTT Basic Res. Lab.)
,
TANAKA Yusuke
(NTT Basic Res. Lab.)
,
SANADA Haruki
(NTT Basic Res. Lab.)
,
GOTOH Hideki
(NTT Basic Res. Lab.)
,
KOHDA Makoto
(Tohoku Univ.)
,
NITTA Junsaku
(Tohoku Univ.)
,
SHIBATA Yusuke
(Kyoto Inst. of Techenology)
,
NISHINAKA Hiroyuki
(Kyoto Inst. of Techenology)
,
YOSHIMOTO Masahiro
(Kyoto Inst. of Techenology)
,
SOGAWA Tetsuomi
(NTT Basic Res. Lab.)
資料名:
応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)
(Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻:
79th
ページ:
ROMBUNNO.21p-131-3
発行年:
2018年09月05日
JST資料番号:
Y0055B
ISSN:
2758-4704
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)