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J-GLOBAL ID:201802264731873729   整理番号:18A1045789

高熱流束エレクトロニクスにおける熱抵抗評価【JST・京大機械翻訳】

Thermal resistance evaluation in high heat flux electronics
著者 (7件):
Kibushi R.
(Department of Mechanical Engineering, Tokyo University of Science, Yamaguchi, 1-1-1 Daigakudo-ri, Sanyo-Onoda, Yamaguchi, Japan)
Yuki K.
(Department of Mechanical Engineering, Tokyo University of Science, Yamaguchi, 1-1-1 Daigakudo-ri, Sanyo-Onoda, Yamaguchi, Japan)
Unno N.
(Department of Mechanical Engineering, Tokyo University of Science, Yamaguchi, 1-1-1 Daigakudo-ri, Sanyo-Onoda, Yamaguchi, Japan)
Yuki K.
(Department of Engineering, Tohoku University, 2-1-1 Katahira, Aoba Ward, Sendai, Miyagi, Japan)
Tomimura T.
(Department Mechanical System Engineering, Kumamoto University, 2-39-1 Kumamoto Chuo, Kumamoto, Japan)
Hatakeyama T.
(Department Mechanical Systems Engineering, 5180 Imizu, Toyama, Japan)
Ishizuka M.
(Department Mechanical Systems Engineering, 5180 Imizu, Toyama, Japan)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2018  号: ICEP-IAAC  ページ: 471-474  発行年: 2018年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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