文献
J-GLOBAL ID:201802264855778983
整理番号:18A1045061
ランダムサンプリング技術による図式レベルでのアナログ故障シミュレーション自動化【JST・京大機械翻訳】
Analog fault simulation automation at schematic level with random sampling techniques
著者 (6件):
Wu Liang
(Heinz Nixdorf Institute, Paderborn, Germany)
,
Hussain Mohammad Khizer
(Heinz Nixdorf Institute, Paderborn, Germany)
,
Abughannam Saed
(Heinz Nixdorf Institute, Paderborn, Germany)
,
Muller Wolfgang
(Heinz Nixdorf Institute, Paderborn, Germany)
,
Scheytt Christoph
(Heinz Nixdorf Institute, Paderborn, Germany)
,
Ecker Wolfgang
(Infineon Technologies AG, Munich, Germany)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
DTIS
ページ:
1-4
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)