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文献
J-GLOBAL ID:201802266286190504   整理番号:18A2110779

電流遮断後に放出された微粒子に起因する遅発絶縁破壊現象【JST・京大機械翻訳】

Late Dielectric Breakdown Phenomenon Caused by Microparticles Released after Current Interruption
著者 (13件):
Hachiman Yuto
(Department of Electrical and Electronics Engineering, University of the Ryukyus, Okinawa, Japan)
Kaneko Eiji
(Department of Electrical and Electronics Engineering, University of the Ryukyus, Okinawa, Japan)
Yamano Yasushi
(Division of Mathematics, Electronics and Information Sciences, Saitama University, Saitama, Japan)
Iwabuchi Hiroyuki
(Division of Intelligent Systems Engineering, Yokohama National University, Kanagawa, Japan)
Hidaka Kunihiko
(Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
Oshiro Fumiya
(Department of Electrical and Electronics Engineering, University of the Ryukyus, Okinawa, Japan)
Inada Yuki
(Division of Mathematics, Electronics and Information Sciences, Saitama University, Saitama, Japan)
Maeyama Mitsuaki
(Division of Mathematics, Electronics and Information Sciences, Saitama University, Saitama, Japan)
Ejiri Haruki
(Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
Nagayo Yuma
(Department of Electrical and Electronics Engineering, University of the Ryukyus, Okinawa, Japan)
Taguchi Yuki
(Division of Mathematics, Electronics and Information Sciences, Saitama University, Saitama, Japan)
Kitabayashi Yusuke
(Division of Intelligent Systems Engineering, Yokohama National University, Kanagawa, Japan)
Kumada Akiko
(Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo, Tokyo, Japan)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2018  号: ISDEIV  ページ: 173-176  発行年: 2018年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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