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文献
J-GLOBAL ID：201802266298869429
整理番号：18A0859910
CMOSエージングコンパクトモデルのパラメータ抽出のための雑音とRTN除去スマート法【JST・京大機械翻訳】
A noise and RTN-removal smart method for parameters extraction of CMOS aging compact models
Diaz-Fortuny Javier
(Universitat Auto`noma de Barcelona (UAB), Electronic Engineering Department, REDEC group., Barcelona, Spain)
,
Martin-Martinez Javier
(Universitat Auto`noma de Barcelona (UAB), Electronic Engineering Department, REDEC group., Barcelona, Spain)
,
Rodriguez Rosana
(Universitat Auto`noma de Barcelona (UAB), Electronic Engineering Department, REDEC group., Barcelona, Spain)
,
Nafria Montserrat
(Universitat Auto`noma de Barcelona (UAB), Electronic Engineering Department, REDEC group., Barcelona, Spain)
,
Castro-Lopez Rafael
(Instituto de Microelectro ́nica de Sevilla, IMSE-CNM, CSIC and Universidad de Sevilla, Spain)
,
Roca Elisenda
(Instituto de Microelectro ́nica de Sevilla, IMSE-CNM, CSIC and Universidad de Sevilla, Spain)
,
Fernandez Francisco V.
(Instituto de Microelectro ́nica de Sevilla, IMSE-CNM, CSIC and Universidad de Sevilla, Spain)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018 号： EUROSOI-ULIS ページ： 1-4 発行年： 2018年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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