文献
J-GLOBAL ID:201802266463621275
整理番号:18A0446888
集積プラズモン屈折率センサ:Ge PINフォトダイオードに及ぼすAlナノホールアレイ【Powered by NICT】
An integrated plasmonic refractive index sensor: Al nanohole arrays on Ge PIN photodiodes
著者 (6件):
Augel L.
(University of Stuttgart, Stuttgart, Germany)
,
Bechler S.
(University of Stuttgart, Stuttgart, Germany)
,
Korner R.
(University of Stuttgart, Stuttgart, Germany)
,
Oehme M.
(University of Stuttgart, Stuttgart, Germany)
,
Schulze J.
(University of Stuttgart, Stuttgart, Germany)
,
Fischer I. A.
(University of Stuttgart, Stuttgart, Germany)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IEDM
ページ:
40.5.1-40.5.4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)