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文献
J-GLOBAL ID：201802267588078386
整理番号：18A1387186
走査型プローブ顕微鏡を用いた鉛フリーはんだにおける時効誘起微細構造発展の評価【JST・京大機械翻訳】
Evaluation of Aging Induced Microstructural Evolution in Lead Free Solders Using Scanning Probe Microscopy
Ahmed Sudan
(Department of Mechanical Engineering, Auburn University, Auburn, AL, 36849)
,
Suhling Jeffrey C.
(Department of Mechanical Engineering, Auburn University, Auburn, AL, 36849)
,
Lall Pradeep
(Department of Mechanical Engineering, Auburn University, Auburn, AL, 36849)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018 号： ITherm ページ： 1062-1070 発行年： 2018年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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