文献
J-GLOBAL ID:201802267710559589
整理番号:18A0244805
3層アナログ回路の故障診断のための多重カーネル学習モデル【Powered by NICT】
A three layers multiple kernel learning model for analog circuit fault diagnosis
著者 (3件):
Wei Zhang
(Office of Research & Development, Naval Aeronautical and Astronautical University, Yantai 264001, China)
,
Aiqiang Xu
(Office of Research & Development, Naval Aeronautical and Astronautical University, Yantai 264001, China)
,
Dianfa Ping
(Department of Electronic and Information Engineering, Naval Aeronautical and Astronautical University, Yantai, 264001, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICEMI
ページ:
47-52
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)