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文献
J-GLOBAL ID：201802267710559589
整理番号：18A0244805
3層アナログ回路の故障診断のための多重カーネル学習モデル【Powered by NICT】
A three layers multiple kernel learning model for analog circuit fault diagnosis
Wei Zhang
(Office of Research & Development, Naval Aeronautical and Astronautical University, Yantai 264001, China)
,
Aiqiang Xu
(Office of Research & Development, Naval Aeronautical and Astronautical University, Yantai 264001, China)
,
Dianfa Ping
(Department of Electronic and Information Engineering, Naval Aeronautical and Astronautical University, Yantai, 264001, China)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： ICEMI ページ： 47-52 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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