文献
J-GLOBAL ID:201802267854560279
整理番号:18A0190298
PPLNに基づく全光学的リタイミングスイッチのランダム領域長誤差のパターン効果【Powered by NICT】
Pattern effects of random domain length error in PPLN-based all-optical retiming switches
著者 (3件):
Fukuchi Yutaka
(Department of Electrical Engineering, Tokyo University of Science 6-3-1 Niijuku, Katsushika-ku, Tokyo 125-8585, Japan)
,
Kimura Tomotaka
(Department of Electrical Engineering, Tokyo University of Science 6-3-1 Niijuku, Katsushika-ku, Tokyo 125-8585, Japan)
,
Matsuura Taichi
(Department of Electrical Engineering, Tokyo University of Science 6-3-1 Niijuku, Katsushika-ku, Tokyo 125-8585, Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
MOC
ページ:
284-285
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)